Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej: Różnice pomiędzy wersjami

Z Historia AGH
Nie podano opisu zmian
Linia 33: Linia 33:


====Artykuły====
====Artykuły====
*Czyrska-Filemonowicz A.: Launch of unique Titan³ G2 60-300 electron microscope in Krakow. European Microscopy Society ''Yearbook'' [online] 2011, s. 50-51 [foto] [przeglądany 10.11.2020]. Dostępny w: https://www.eurmicsoc.org/medias/files/02_association/03_documentation/01_yearbook/EMS-2011-COMPLET-BD.pdf
*Czyrska-Filemonowicz A.: Launch of unique Titan³ G2 60-300 electron microscope in Krakow. ''European Microscopy Society Yearbook'' [online] 2011, s. 50-51 [foto] [przeglądany 10.11.2020]. Dostępny w: https://www.eurmicsoc.org/medias/files/02_association/03_documentation/01_yearbook/EMS-2011-COMPLET-BD.pdf


*Czyrska-Filemonowicz A.: 35-lecie współpracy z Forschungszentrum Jülich. ''Biuletyn AGH'' [online] 2016, nr 104-105, s. 19-20, [foto] [przeglądany 10.11.2020]. Dostępny w: http://www.biuletyn.agh.edu.pl/biuletynypdf/2016_Biuletyn_PDF/104_105_08_09_2016.pdf
*Czyrska-Filemonowicz A.: 35-lecie współpracy z Forschungszentrum Jülich. ''Biuletyn AGH'' [online] 2016, nr 104-105, s. 19-20, [foto] [przeglądany 10.11.2020]. Dostępny w: http://www.biuletyn.agh.edu.pl/biuletynypdf/2016_Biuletyn_PDF/104_105_08_09_2016.pdf

Wersja z 18:33, 10 lis 2020

Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej
Rok założenia 2010


Pochodzi od -
Przekształcony na:

Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej (International Centre of Electron Microscopy for Materials Science, IC-EM) zostało powołane 1 czerwca 2010 r. (Zarządzenie nr 27 Rektora AGH) jako jednostka pozawydziałowa AGH, działająca we współpracy z partnerami zagranicznymi.

Jednostką wiodącą Centrum jest Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej, zaś wiodącym partnerem zagranicznym jest Forschungszentrum Jülich (FZJ) w Niemczech. Porozumienie o współpracy pomiędzy IC-EM a FZJ zostało uroczyście podpisane 30 września 2010 r. w Forschungszentrum Jülich.

Z dniem 1 stycznia 2020 r. Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej stało się jednostką wewnętrzną Wydziału Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej (Zarządzenie Rektora nr 79).

Działalność naukowo-badawcza Centrum obejmuje badania podstawowe i stosowane związane z problemami mikroskopii elektronowej w nauce o materiałach, fizyce, chemii, elektronice, energetyce i medycynie. Prowadzi również szeroko pojętą działalność szkoleniową w zakresie wykorzystania mikroskopii elektronowej w badaniach materiałów oraz nowych metod badawczych w tej dziedzinie, m.in. cyklicznie organizując w AGH międzynarodowe Szkoły mikroskopii elektronowej. Centrum wyposażone jest w cztery transmisyjne i dwa skaningowe mikroskopy elektronowe, w tym unikalny analityczny wysokorozdzielczy mikroskop elektronowy (S)TEM Titan Cubed G2 60-300 firmy FEI z unikalnym oprzyrządowaniem do wieloskalowych badań strukturalnych, również w skali atomowej.

Infrastruktura badawcza, zaangażowanie i kompetencje zespołu Centrum znalazły wyraz w zaproszeniach do wielu międzynarodowych projektów badawczych. Od 2006 r. Centrum jest partnerem w europejskiej sieci zaawansowanych centrów mikroskopii elektronowej (Distributed European Infrastructure of Advanced Electron Microscopy for Nanoscience, ESTEEM). Uczestnictwo w tej Sieci umacnia pozycję zespołu Centrum w świecie i stwarza nowe możliwości rozwoju mikroskopii elektronowej w Kraju oraz przyczynia się do promocji Uczelni na arenie międzynarodowej.

Szczegółowy opis infrastruktury badawczej Centrum, zakres prowadzonych badań oraz współpracę krajową i miedzynarodową podano na stronie: http://www.tem.agh.edu.pl.[1]


Kierownicy

 FunkcjaRok odRok do
Aleksandra Czyrska-FilemonowiczKierownik20102016
Adam Piotr KrukKierownik20172020

Osoby związane z centrum

Aleksandra Czyrska-Filemonowicz

Przypisy

  1. Informacje i tekst o IC-EM od prof. dr hab. inż. Aleksandry Czyrskiej-Filemonowicz

Bibliografia

Artykuły

Inne

  • Informacje od prof. dr hab. inż. Aleksandy Czyrskiej-Filemonowicz

Źródła (w układzie chronologicznym)

stan na dzień 10.11.2020