Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej

Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej
Rok założenia	2010
Pochodzi od	-
Przekształcony na:

Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej (International Centre of Electron Microscopy for Materials Science, IC-EM) zostało powołane 1 czerwca 2010 r. (Zarządzenie nr 27 Rektora AGH) jako jednostka pozawydziałowa AGH, działająca we współpracy z partnerami zagranicznymi.

Jednostką wiodącą Centrum jest Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej, zaś wiodącym partnerem zagranicznym jest Forschungszentrum Jülich (FZJ) w Niemczech. Porozumienie o współpracy pomiędzy IC-EM a FZJ zostało uroczyście podpisane 30 września 2010 r. w Forschungszentrum Jülich.

Z dniem 1 stycznia 2020 r. Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej stało się jednostką wewnętrzną Wydziału Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej (Zarządzenie Rektora nr 79).

Działalność naukowo-badawcza Centrum obejmuje badania podstawowe i stosowane związane z problemami mikroskopii elektronowej w nauce o materiałach, fizyce, chemii, elektronice, energetyce i medycynie. Prowadzi również szeroko pojętą działalność szkoleniową w zakresie wykorzystania mikroskopii elektronowej w badaniach materiałów oraz nowych metod badawczych w tej dziedzinie, m.in. cyklicznie organizując w AGH międzynarodowe Szkoly mikroskopii elektronowej. Centrum wyposażone jest w cztery transmisyjne i dwa skaningowe mikroskopy elektronowe, w tym unikalny analityczny wysokorozdzielczy mikroskop elektronowy (S)TEM Titan Cubed G2 60-300 firmy FEI z unikalnym oprzyrządowaniem do wieloskalowych badań strukturalnych, również w skali atomowej.

Infrastruktura badawcza, zaangażowanie i kompetencje zespołu Centrum znalazły wyraz w zaproszeniach do wielu międzynarodowych projektów badawczych. Od 2006 r. Centrum jest partnerem w europejskiej sieci zaawansowanych centrów mikroskopii elektronowej (Distributed European Infrastructure of Advanced Electron Microscopy for Nanoscience, ESTEEM). Uczestnictwo w tej Sieci umacnia pozycję zespołu Centrum w świecie i stwarza nowe możliwości rozwoju mikroskopii elektronowej w Kraju oraz przyczynia się do promocji Uczelni na arenie międzynarodowej.

Szczegółowy opis infrastruktury badawczej Centrum, zakres prowadzonych badań oraz współpracę krajową i miedzynarodową podano na stronie: http://www.tem.agh.edu.pl.

Kierownicy

	Funkcja	Rok od	Rok do
Aleksandra Czyrska-Filemonowicz	Kierownik	2010	2016
Adam Piotr Kruk	Kierownik	2017	2020

Osoby związane z centrum

Aleksandra Czyrska-Filemonowicz

Bibliografia

Artykuły

• Europejska Szkoła Mikroskopii Elektronowej. [oprac. G. Cempura]. Biuletyn AGH [online] 2013, nr 71, s. 10-11, [foto] [przeglądany 09.11.2020]. Dostępny w: http://www.biuletyn.agh.edu.pl/biuletynypdf/2013_Biuletyn_PDF/071_11_2013.pdf

• Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej. [oprac. B. Dubiel]. Biuletyn AGH [online] 2010, nr 36, s. 14, [foto] [przeglądany 12.06.2020]. Dostępny w: http://www.biuletyn.agh.edu.pl/biuletynypdf/2010_Biuletyn_PDF/036_10_2010.pdf

Inne

• Informacje od prof. dr hab. inż. Aleksandy Czyrskiej-Filemonowicz

• Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej [online] [przeglądany 3.12.2019]. Dostępny w: http://www.tem.agh.edu.pl/main_new/index.php/pl/centrum-historia

• Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej. Folder informacyjny w języku angielskim

• Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej. Folder informacyjny w języku polskim

Źródła (w układzie chronologicznym)

• Uchwała Nr 65/2010 Senatu AGH z dnia 26 maja 2010 r. w sprawie utworzenia pozawydziałowej jednostki o nazwie „Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej”

• Uchwała Nr 87/2010 Senatu AGH z dnia 30 czerwca 2010 r. w sprawie opinii o powołaniu prof. dr hab. inż. Aleksandry Czyrskiej-Filemonowicz na Kierownika Międzynarodowego Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej

• Zarządzenie Nr 27/2010 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 14 lipca 2010 r. w sprawie powołania jednostki pozawydziałowej o nazwie "Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej"

• Regulamin Międzynarodowego Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej (IC-EM). Postanowienia ogólne. Załącznik nr 1 do Zarządzenia Nr 27/2010 Rektora AGH z dnia 14 lipca 2010 roku

• Zarządzenie NR 19/2011 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 13 lipca 2011 r. w sprawie wprowadzenia zmian w Regulaminie Międzynarodowego Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej zgodnie z Uchwałą Nr 65/2010 Senatu AGH z dnia 26 maja 2010 r.

• Uchwała nr 250/2012 Senatu AGH z dnia 28 listopada 2012 r. w sprawie opinii o powołaniu przez Rektora kierowników jednostek pozawydziałowych i ich zastępców

• Zarządzenie Nr 39/2012 Rektora Akademii Górniczo–Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 4 grudnia 2012 r. w sprawie wprowadzenia zmian w Regulaminie Międzynarodowego Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej

• Zarządzenie Nr 76/2019 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 25 listopada 2019 r. w sprawie likwidacji jednostek oraz nadania jednostkom statusu "jednostka pomocnicza w likwidacji"

• Zarządzenie Nr 79/2019 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 10 grudnia 2019 r. w sprawie zmiany Zarządzenia Nr 76/2019 Rektora AGH z dnia 25 listopada 2019 r. w sprawie likwidacji jednostek oraz nadania jednostkom statusu "jednostka pomocnicza w likwidacji"

stan na dzień 09.11.2020