Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej: Różnice pomiędzy wersjami

Z Historia AGH
(Nie pokazano 35 wersji utworzonych przez 2 użytkowników)
Linia 1: Linia 1:
{{Infobox jednostka
{{Infobox jednostka
|Rok założenia=2010
|Rok założenia=2010
|Rok przekształcenia=
|pochodzi_od=-
}}
}}
Zarządzeniem nr 27, Rektora prof. dr hab. inż. Antoniego Tajdusia z dnia 14 lipca 2010 r., z dniem 1 czerwca 2010 r. powołano jednostkę pozawydziałową '''Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej (IC-EM)'''.
'''Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej''' (International Centre of Electron Microscopy for Materials Science, IC-EM) zostało powołane 1 czerwca 2010 r. (Zarządzenie nr 27 Rektora AGH) jako jednostka pozawydziałowa AGH, działająca we współpracy z partnerami zagranicznymi.  


Celem IC-EM jest integracja i promocja zadań Uczelni i Forschungszentrum Jülich GmbH (FZJ) w zakresie charakteryzowania materiałów metodami mikroskopii elektronowej na arenie
Jednostką wiodącą Centrum jest Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej, zaś wiodącym partnerem zagranicznym jest Forschungszentrum Jülich (FZJ) w Niemczech. Porozumienie o współpracy pomiędzy IC-EM a FZJ  zostało uroczyście podpisane 30 września 2010 r. w Forschungszentrum Jülich.
międzynarodowej.  


Zarządzeniem nr 76, Rektora prof. dr hab. inż. Tadeusza Słomki z dnia 25 listopada 2019 r., od dnia 1 października 2019 r. Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej otrzymało status "jednostki pomocniczej w likwidacji". Od dnia 1 stycznia 2020 r. Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej staje się jednostką wewnętrzną Wydziału Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej.
Z dniem 1 stycznia 2020 r. Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej stało się jednostką wewnętrzną Wydziału Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej (Zarządzenie Rektora nr 79).
 
Działalność naukowo-badawcza Centrum obejmuje badania podstawowe i stosowane związane z problemami mikroskopii elektronowej w nauce o materiałach, fizyce, chemii, elektronice, energetyce i medycynie. Prowadzi również szeroko pojętą działalność szkoleniową w zakresie wykorzystania mikroskopii elektronowej w badaniach materiałów oraz nowych metod badawczych w tej dziedzinie, m.in. cyklicznie organizując w AGH międzynarodowe Szkoły mikroskopii elektronowej.
Centrum wyposażone jest w cztery transmisyjne i dwa skaningowe mikroskopy elektronowe, w tym unikalny analityczny wysokorozdzielczy mikroskop elektronowy (S)TEM Titan Cubed G2 60-300 firmy FEI z unikalnym oprzyrządowaniem do wieloskalowych badań strukturalnych, również w skali atomowej.
 
Infrastruktura badawcza, zaangażowanie i kompetencje zespołu Centrum znalazły wyraz w zaproszeniach do wielu międzynarodowych projektów badawczych. Od 2006 r. Centrum jest partnerem w europejskiej sieci zaawansowanych centrów mikroskopii elektronowej (Distributed European Infrastructure of Advanced Electron Microscopy for Nanoscience, ESTEEM). Uczestnictwo w tej Sieci umacnia pozycję zespołu Centrum w świecie i stwarza nowe możliwości rozwoju mikroskopii elektronowej w Kraju oraz przyczynia się do promocji Uczelni na arenie międzynarodowej.
 
Szczegółowy opis infrastruktury badawczej Centrum, zakres prowadzonych badań oraz współpracę krajową i miedzynarodową podano na stronie: http://www.tem.agh.edu.pl.<ref>Informacje i tekst o IC-EM od prof. dr hab. inż. Aleksandry Czyrskiej-Filemonowicz</ref>




Linia 14: Linia 22:
{{jednostka}}
{{jednostka}}


== Osoby związane z centrum ==
== Osoby związane z Centrum ==
 
Zespół:
 
- dr hab. inż Adam Kruk, prof. AGH (kierownik)
 
- prof. dr hab. inż. [[Aleksandra Czyrska-Filemonowicz]]
 
- prof. dr Philippe Buffat (EPFL Lozanna)
 
- prof. dr Franco Rustichelli (UNIVPM Ancona)
 
- dr inż. Grzegorz Cempura
 
- dr inż. Joanna Karbowniczek
 
- dr Oleksandr Krysthal
 
- mgr inż. Sebastian Lech
 
- dr inż. Grzegorz Michta
 
- dr hab. inż. Władysław Osuch, prof. AGH
 
- dr inż. Bogdan Rutkowski
 
- dr hab. inż. Urszula Stachewicz, prof. AGH
 
- dr inż. Kinga Zawadzka
 
- dr inż. Maciej Ziętara
 
==Przypisy==


{{osoby}}
<references/>


== Bibliografia ==
== Bibliografia ==
====Artykuły====
*Czyrska-Filemonowicz A.: Launch of unique Titan³ G2 60-300 electron microscope in Krakow. ''European Microscopy Society Yearbook'' [online] 2011, s. 58-59 [foto] [przeglądany 10.11.2020]. Dostępny w: https://www.eurmicsoc.org/medias/files/02_association/03_documentation/01_yearbook/EMS-2011-COMPLET-BD.pdf
*Czyrska-Filemonowicz A.: 35-lecie współpracy z Forschungszentrum Jülich. ''Biuletyn AGH'' [online] 2016, nr 104-105, s. 19-20, [foto] [przeglądany 10.11.2020]. Dostępny w: http://www.biuletyn.agh.edu.pl/biuletynypdf/2016_Biuletyn_PDF/104_105_08_09_2016.pdf
*Europejska Szkoła Mikroskopii Elektronowej. [oprac. G. Cempura]. ''Biuletyn AGH'' [online] 2013, nr 71, s. 10-11, [foto] [przeglądany 09.11.2020]. Dostępny w: http://www.biuletyn.agh.edu.pl/biuletynypdf/2013_Biuletyn_PDF/071_11_2013.pdf
*Kruk A., Michta G.: AGH i piękno. ''Biuletyn AGH'' [online] 2016, nr 102, s. 21, [foto] [przeglądany 10.11.2020]. Dostępny w: http://www.biuletyn.agh.edu.pl/biuletynypdf/2016_Biuletyn_PDF/102_103_06_07_2016.pdf
*Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej. [oprac. B. Dubiel]. ''Biuletyn AGH'' [online] 2010, nr 36, s. 14, [foto] [przeglądany 12.06.2020]. Dostępny w: http://www.biuletyn.agh.edu.pl/biuletynypdf/2010_Biuletyn_PDF/036_10_2010.pdf
*Podpisane porozumienia : program wymiany osobowej dla Wspólnej Infrastruktury Mikroskopii Elektronowej pomiędzy Akademią Górniczo-Hutniczą a Forschungszentrum Jülich. [oprac. A. Czyrska-Filemonowicz]. ''Biuletyn AGH'' [online] 2013, nr 68-69, s. 19-20, [foto] [przeglądany 10.11.2020]. Dostępny w: http://www.biuletyn.agh.edu.pl/biuletynypdf/2013_Biuletyn_PDF/068_069_08_09_2013.pdf


=== Inne ===
=== Inne ===
*Informacje od prof. dr hab. inż. Aleksandy Czyrskiej-Filemonowicz


*Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej [online] [przeglądany 3.12.2019]. Dostępny w: http://www.tem.agh.edu.pl/main_new/index.php/pl/centrum-historia
*Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej [online] [przeglądany 3.12.2019]. Dostępny w: http://www.tem.agh.edu.pl/main_new/index.php/pl/centrum-historia
*[[Media:Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej. Folder informacyjny w języku angielskim.pdf|Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej. Folder informacyjny w języku angielskim]]
*[[Media:Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej. Folder informacyjny w języku polskim.pdf|Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej. Folder informacyjny w języku polskim]]


== Źródła (w układzie chronologicznym) ==
== Źródła (w układzie chronologicznym) ==


* Zarządzenie Nr 27/2010 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 14 lipca 2010 r. w sprawie powołania jednostki pozawydziałowej o nazwie "Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej"
*[[Media:Uchwała Nr 65 2010 Senatu AGH z dnia 26 maja 2010 r.pdf|Uchwała Nr 65/2010 Senatu AGH z dnia 26 maja 2010 r. w sprawie utworzenia pozawydziałowej jednostki o nazwie „Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej”]]
 
*[[Media:Uchwała Nr 87 2010 Senatu AGH z dnia 30 czerwca 2010 r.pdf|Uchwała Nr 87/2010 Senatu AGH z dnia 30 czerwca 2010 r. w sprawie opinii o powołaniu prof. dr hab. inż. Aleksandry Czyrskiej-Filemonowicz na Kierownika Międzynarodowego Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej]]
 
*[[Media:Zarządzenie nr 27 2010 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 14 lipca 2010 roku.pdf|Zarządzenie Nr 27/2010 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 14 lipca 2010 r. w sprawie powołania jednostki pozawydziałowej o nazwie "Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej"]]
 
*[[Media:Regulamin Międzynarodowego Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej.pdf|Regulamin Międzynarodowego Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej (IC-EM). Postanowienia ogólne. Załącznik nr 1 do Zarządzenia Nr 27/2010 Rektora AGH z dnia 14 lipca 2010 roku]]
 
*[[Media:Zarządzenie nr 19 2011 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 13 lipca 2011 r.pdf|Zarządzenie NR 19/2011 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 13 lipca 2011 r. w sprawie wprowadzenia zmian w Regulaminie Międzynarodowego Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej zgodnie z Uchwałą Nr 65/2010 Senatu AGH z dnia 26 maja 2010 r.]]
 
*[[Media:Uchwała nr 251 2012 Senatu AGH z dnia 28 listopada 2012 r.pdf|Uchwała nr 250/2012 Senatu AGH z dnia 28 listopada 2012 r. w sprawie opinii o powołaniu przez Rektora kierowników jednostek pozawydziałowych i ich zastępców]]


* REGULAMIN Międzynarodowego Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej (IC-EM). Postanowienia ogólne. Załącznik nr 1 do Zarządzenia Nr 27/2010 Rektora AGH z dnia 14 lipca 2010 roku
*[[Media:Zarządzenie nr 39 2012 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 4 grudnia 2012 r.pdf|Zarządzenie Nr 39/2012 Rektora Akademii Górniczo–Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 4 grudnia 2012 r. w sprawie wprowadzenia zmian w Regulaminie Międzynarodowego Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej]]


* Zarządzenie Nr 76/2019 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 25 listopada 2019 r. w sprawie likwidacji jednostek oraz nadania jednostkom statusu "jednostka pomocnicza w likwidacji"
*[[Media:Zarządzenie nr 76 2019 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 25 listopada 2019 r.pdf|Zarządzenie Nr 76/2019 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 25 listopada 2019 r. w sprawie likwidacji jednostek oraz nadania jednostkom statusu "jednostka pomocnicza w likwidacji"]]


*[[Media:Zarządzenie nr 79 2019 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 10 grudnia 2019 r.pdf|Zarządzenie Nr 79/2019 Rektora Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie z dnia 10 grudnia 2019 r. w sprawie zmiany Zarządzenia Nr 76/2019 Rektora AGH z dnia 25 listopada 2019 r. w sprawie likwidacji jednostek oraz nadania jednostkom statusu "jednostka pomocnicza w likwidacji"]]


'''''<span style="color:red;">stan na dzień 10.11.2020</span>'''''


[[Category: Jednostki międzywydziałowe i pozawydziałowe]]
[[Category: Jednostki międzywydziałowe i pozawydziałowe]]

Wersja z 18:20, 12 lis 2020

Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej
Rok założenia 2010


Pochodzi od -
Przekształcony na:

Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej (International Centre of Electron Microscopy for Materials Science, IC-EM) zostało powołane 1 czerwca 2010 r. (Zarządzenie nr 27 Rektora AGH) jako jednostka pozawydziałowa AGH, działająca we współpracy z partnerami zagranicznymi.

Jednostką wiodącą Centrum jest Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej, zaś wiodącym partnerem zagranicznym jest Forschungszentrum Jülich (FZJ) w Niemczech. Porozumienie o współpracy pomiędzy IC-EM a FZJ zostało uroczyście podpisane 30 września 2010 r. w Forschungszentrum Jülich.

Z dniem 1 stycznia 2020 r. Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej stało się jednostką wewnętrzną Wydziału Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej (Zarządzenie Rektora nr 79).

Działalność naukowo-badawcza Centrum obejmuje badania podstawowe i stosowane związane z problemami mikroskopii elektronowej w nauce o materiałach, fizyce, chemii, elektronice, energetyce i medycynie. Prowadzi również szeroko pojętą działalność szkoleniową w zakresie wykorzystania mikroskopii elektronowej w badaniach materiałów oraz nowych metod badawczych w tej dziedzinie, m.in. cyklicznie organizując w AGH międzynarodowe Szkoły mikroskopii elektronowej. Centrum wyposażone jest w cztery transmisyjne i dwa skaningowe mikroskopy elektronowe, w tym unikalny analityczny wysokorozdzielczy mikroskop elektronowy (S)TEM Titan Cubed G2 60-300 firmy FEI z unikalnym oprzyrządowaniem do wieloskalowych badań strukturalnych, również w skali atomowej.

Infrastruktura badawcza, zaangażowanie i kompetencje zespołu Centrum znalazły wyraz w zaproszeniach do wielu międzynarodowych projektów badawczych. Od 2006 r. Centrum jest partnerem w europejskiej sieci zaawansowanych centrów mikroskopii elektronowej (Distributed European Infrastructure of Advanced Electron Microscopy for Nanoscience, ESTEEM). Uczestnictwo w tej Sieci umacnia pozycję zespołu Centrum w świecie i stwarza nowe możliwości rozwoju mikroskopii elektronowej w Kraju oraz przyczynia się do promocji Uczelni na arenie międzynarodowej.

Szczegółowy opis infrastruktury badawczej Centrum, zakres prowadzonych badań oraz współpracę krajową i miedzynarodową podano na stronie: http://www.tem.agh.edu.pl.[1]


Kierownicy

 FunkcjaRok odRok do
Aleksandra Czyrska-FilemonowiczKierownik20102016
Adam Piotr KrukKierownik20172020

Osoby związane z Centrum

Zespół:

- dr hab. inż Adam Kruk, prof. AGH (kierownik)

- prof. dr hab. inż. Aleksandra Czyrska-Filemonowicz

- prof. dr Philippe Buffat (EPFL Lozanna)

- prof. dr Franco Rustichelli (UNIVPM Ancona)

- dr inż. Grzegorz Cempura

- dr inż. Joanna Karbowniczek

- dr Oleksandr Krysthal

- mgr inż. Sebastian Lech

- dr inż. Grzegorz Michta

- dr hab. inż. Władysław Osuch, prof. AGH

- dr inż. Bogdan Rutkowski

- dr hab. inż. Urszula Stachewicz, prof. AGH

- dr inż. Kinga Zawadzka

- dr inż. Maciej Ziętara

Przypisy

  1. Informacje i tekst o IC-EM od prof. dr hab. inż. Aleksandry Czyrskiej-Filemonowicz

Bibliografia

Artykuły

Inne

  • Informacje od prof. dr hab. inż. Aleksandy Czyrskiej-Filemonowicz

Źródła (w układzie chronologicznym)

stan na dzień 10.11.2020